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    CST-50 沖擊試樣缺口投影儀

    CST-50 沖擊試樣缺口投影儀
    產(chǎn)品說(shuō)明

    一、簡(jiǎn)介

           CST-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T229—2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口要求而開發(fā)的一種專用于檢驗(yàn)夏比V型和U型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器

    ,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上
    ,與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比,以確定被檢測(cè)的試樣缺口是否合格
    。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便
    ,對(duì)比直觀。

    二.方案描述

           本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測(cè)物體

    ,再以物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上
    。 根據(jù)需要,本儀器為單一投射照明
    ,光源通過(guò)一系列光學(xué)元件投射在工作臺(tái)上
    ,再通過(guò)一系列光學(xué)元件將被測(cè)試樣缺口輪廓清晰地投射到投影屏上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像
    ,在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方位一致
    。將被測(cè)度樣放在工作臺(tái)上,旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)升降手輪
    ,調(diào)焦至影像清晰
    ,再調(diào)整圓工作臺(tái)和縱橫向調(diào)節(jié)手輪,使已放大了50倍的試樣V型(或U型)缺口投影圖與本儀器所提供的也放大了50倍的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)尺寸圖對(duì)比,即判斷出沖擊試樣V型(或U型)缺口的幾何尺寸加工質(zhì)量

    三.主要技術(shù)參數(shù)

    1

    、投影屏直徑:180mm

    2

    、光源(鹵鎢燈):12V     100W

    3

    、工作臺(tái)尺寸:

                           方工作臺(tái)尺寸:  110×125mm

                           圓工作臺(tái)直徑:  90mm

                           工作臺(tái)玻璃直徑:70mm 

    4、工作臺(tái)行程:

                            縱向: ±10mm

                            橫向:±10mm

                            升降:±12 mm (無(wú)刻度)

    5

    、工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍:0~360°(無(wú)刻度)  

    6

    、電源:220V  50Hz

    7、外形尺寸:515×224×603mm          

    8

    、重量: 約18kg

    9

    、儀器放大倍率:         50x

          物鏡放大倍率:         2.5x

          投影物鏡放大倍率:     20x

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